National Instruments 近期推出了一款新型的PXIe数字波形仪器——PXIe-6544。这款设备以其卓越的性能和灵活性，满足了高速数字信号测试和测量的需求，广泛应用于工业自动化、通信、半导体测试以及科研教育等多个领域。
PXIe-6544是一款100 MHz的32通道数字波形发生器和分析仪，能够以高达100 MHz的速率采样数字波形，并与常用的晶体管-晶体管逻辑(TTL)电压电平连接。它具有高级同步功能，适用于构建集成式混合信号测试系统，并提供每个存储单元的数字时序功能 。此外，PXIe-6544还支持高达200 MHz的数字波形采样和生成，具备与多种标准TTL和低压差分信号(LVDS)以及可设置的电压电平连接的能力 。
PXIe-6570
PXIe-6544的另一个显著特点是其高容量的板载内存和触发及向量(Pattern)排序功能。一些型号还支持双倍数据速率(DDR)技术和实时硬件数据比较，这进一步提升了其在实际应用中的性能 。设备的流速率达到660 MB/s到主机PC内存和400 MB/s从主机PC内存，非常适合需要高流速率的应用，如高质量计算机视频信号的流式传输，用于生成或采集LCD屏幕、电视部件、高质量信号(高达1080p, 60 Hz)、射频基带设备和高清收音机 。
此外，PXIe-6544还提供了改进的定时和同步能力，板载可用的DDS时钟提供高达100 MHz的亚赫兹分辨率，帮助用户在不使用外部时钟的情况下以更高的精度进行信息时钟(生成或采集) 。这些特性使得PXIe-6544在各种应用中都能提供高性能和灵活性，为工业自动化和测试测量系统提供了可靠的技术支持 。
PXIe-6544的推出，不仅丰富了National Instruments在PXI数字波形仪器领域的产品线，也为工程师和科研人员提供了一个强大的工具，以应对各种复杂的测试和测量挑战。随着技术的不断进步和应用需求的日益增长，PXIe-6544有望在未来的测试测量领域发挥更加重要的作用。
